La creació del **microscopi de capacitància d’escaneig (SCM)** va sorgir arran del fracàs comercial del VideoDisc de RCA, un sistema de vídeo domèstic desenvolupat des dels anys 60 que utilitzava discs de vinil amb ranures d'alta densitat i una agulla metàl·lica que detectava diferències de capacitància per reproduir àudio i vídeo. Malgrat la qualitat tècnica superior, el VideoDisc no va triomfar per culpa de la competència del VHS, que era més econòmic, oferia més títols i permetia als usuaris enregistrar programes a casa.

El VideoDisc requeria sensors de capacitància extremadament sensibles, capaços de mesurar variacions minúscules (de l’ordre d’attofarads i femtofarads) a gran velocitat per descodificar el senyal de vídeo. Aquests sensors van resultar ser útils més enllà del seu ús original. L’investigador James R. Matey, de RCA, va reutilitzar-los per inventar el SCM, una eina capaç de detectar detalls de la superfície de materials a escala nanomètrica, molt per sota de la capacitat dels microscòpics convencionals.

Inicialment, el SCM es va dissenyar com a eina de control de qualitat per fabricar els VideoDisc, però després de validar-lo independentment (especialment pel National Institute of Standards and Technology, NIST), la tecnologia es va comercialitzar. Els fabricants de semiconductors van adoptar el SCM per estudiar la distribució de dopants (impureses que modifiquen la conductivitat elèctrica) dins dels circuits integrats, una tasca fonamental per produir xips cada cop més petits i avançats.

Així, una tecnologia creada per un producte fracassat va donar lloc a una eina clau per la indústria microelectrònica, demostrant com la recerca pot generar innovacions inesperades i revolucionàries.